ZETA電位·粒徑·分子量測系統(tǒng) ELSZ-2000ZS
產(chǎn)品信息 特點 使用了*新型高感度APD，感度提升及縮短測量時間 通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性相轉(zhuǎn)移溫度 可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度
特點
● *新型號高靈敏度APD，提高靈敏度，縮短測量時間
● 通過自動溫度梯度測量可以進行變性、相變溫度分析
● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進行測量
● 增加寬范圍分子量測定和分析功能
● 可對應(yīng)渾濁的高濃度樣品的粒徑·ZETA電位測定
● 測量樣品池內(nèi)的電滲透流，通過圖譜分析提供高精度的ZETA電位測量結(jié)果
● 可對應(yīng)高鹽濃度溶液的ZETA電位測定
● 可對應(yīng)小尺寸固體樣品的ZETA電位測量
用途
非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅對應(yīng)微小顆粒，還適用于薄膜和平板表面的科學研究。
● 新型功能材料領(lǐng)域
燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
● 陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）
漿料狀樣品
濾光器
浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導體領(lǐng)域
異物附著在硅晶片表面的原理解析
研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
CMP漿料的相互作用
● 高分子聚合物/化工領(lǐng)域
乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能性研究、功能納米顆粒
紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測
脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測
分子量測量原理（靜態(tài)光散射法）
眾所周知，靜態(tài)光散射法可以輕松測量**分子量。
測量原理為，將光線照射在溶液分子上可以得到散射光，根據(jù)散射光的**值求取分子量。即利用了大分子可得到強散射光，小分子可得到弱散射光的現(xiàn)象。
實際上，因為濃度不同散射光強度也不同，實測數(shù)點不同濃度溶液的光散射強度，代入以下公式繪制圖示。橫軸為濃度，縱軸為與散射強度Kc/R（θ）相等的倒數(shù)。此方法也被稱為Debye圖示法。
籍由往零濃度（C=0）外插的倒數(shù)求取分子量Mw，并以此初期梯度可求得**維里系數(shù)A2。
分子量較大的分子，散射強度會因角度而不同。
分子量籍由測量不同散射角度（θ）的散射強度不但可提高測精度，也可獲得分子擴散指標值的回轉(zhuǎn)半徑。
以固定角度進行測量時，只要輸入推測的回轉(zhuǎn)半徑，角度將自行補正，可測量更高精度的分子量。
**維里系數(shù)
表示溶媒中分子間的排斥與吸引程度，更易于觀察溶劑分子的相容性與結(jié)晶化現(xiàn)象。
2為正時，代表溶劑相容性高，分子間排斥力強，更加穩(wěn)定。
2為負時，代表溶劑相容性低，分子間吸引力強，易產(chǎn)生凝集。
2=0時，代表溶劑為理想溶劑，此時溫度被稱為理想溫度。排斥與吸引力處于平衡狀態(tài)，易產(chǎn)生結(jié)晶化。