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日立HITACHI系列多功能掃描探針顯微鏡FM100 Plus/AFM100
產品型號:日立西安半導體檢測 熱機械分析儀FM100 Plus/AFM100系統
產品品牌:HITACHI日立分析儀器
產品介紹:

HITACHI日立是一家全球性的日立公司,通過互聯材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續,這些解決方案使生產和開發過程更加高效、自動化和綠色,以確保產品質量、**性和合規性。我們提供實驗室級和強大高性能現場檢測設備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜(XRF)、X熒光測厚儀(鍍層測厚儀)、激光誘導擊穿光譜儀(LIBS)、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。

詳細介紹

多功能掃描探針顯微鏡AFM100 Plus/AFM100系統

 

AFM100 Plus/AFM100系統是以在研發、生產、教育等各種場合普及AFM應用為目的,

并追求操作性、可靠性及高效率觀察的通用型高分辨掃描探針顯微鏡系統。

 

預裝探針系統實現可靠的探針更換 

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 一鍵自動測量/處理/分析

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利用AFM標記功能實現同視野的AFMSEMEDS觀察分析

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