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日立HITACHI紫外可見近紅外分光光度計
產品型號：日立UH4150蕪湖
產品品牌：HITACHI日立分析儀器
產品介紹：

日立（HITACHI），是來自日本的全球500強綜合跨國集團，1979年便在北京成立了**家日資企業的事務所。日立在中國已經發展成為擁有約150家公司的企業集團。 事業領域涉及能源系統、保障人們**舒適出行的鐵路等交通系統，運用大數據進行**的信息系統，以及通過健康管理、診斷、醫療技術等提供健康生活的醫療保健等等。
詳細介紹

日立用**回應社會所面臨的課題。日立 [1]在2015年度（2015年4月1日至2016年3月31日）的合并銷售額達到100,343億日元，員工約335,000名。日立作為社會**事業的全球領軍者，開展的業務涉及電力、能源、產業、流通、水、城市建設、金融、公共、醫療健康等領域，通過與客戶的協創提供上等解決方案。中國是日立*為重要的市場之一。
截止到2015年度末，日立集團在中國擁有180家集團企業，正式員工約47,800名，在中國市場的銷售額達到10, 555億日元，約占日立集團全球總銷售額的10%。 [2]日立致力于通過“社會**事業”為中國的社會發展及產業升級做出積極貢獻。

本次開發的UH4150AD+（Advanced Spec Plus）是在延續了作為光學元件的光譜特性檢測設備UH4150 系列的基礎上，提升了其在近紅外區域光譜特性測量性能，成為在先端行業很流行的測量光學元件的理想設備。


切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定。

        安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內進行測定。由于使用日立專業的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到*小。
 

探測器轉換波長
檢測器切換時附近波長測定數據例
（金納米棒的吸收光譜）


日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統可實現低雜散光和低偏振。
        UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。 棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。


平行光束可實現反射光和散射光的**測定。
        入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導電多層膜和棱鏡等光學薄膜的模擬設計值將與實際測定值不同。
        但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。

平行光束，會聚光束
鏡面反射率測定示例


可提供適合不同測定目的的多種檢測器。
        可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3

檢測器產品線

檢測器產品線


采用全新人體工學設計。
        改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。


兼容多種U-4100附件。
        通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。


比U-4100型更高的樣品通量。
        在秉承U-4100型光學系統高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數據間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。*5   UH4150在約2分鐘內可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。
1 nm的光譜數據的比較
 

掃描速度為600 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜

掃描速度為1,200 nm/min的
太陽能反射材料的反射光譜