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日本有限會社NAS技研微量金屬污染物全自動采樣設備(NAC系列)



以往的問題

晶圓端面污染物采樣技術
基本上需要把平放的晶圓垂直豎起。
讓晶圓旋轉,難以實現只允許端面和采樣液接觸。

問題點
晶圓垂直豎起旋轉需要專用設備。
需要一定量的采樣液,采樣液太少就無法滿足采樣要求。

本公司產品特有的解決方案
利用液體表面張力的端面采樣支架具
晶圓端面接觸從支架具側面狹縫中稍微突起的采樣液。
由于表面張力會使采樣液表面突起,但采樣液不會從狹縫中溢出。

端面采樣描述


晶圓旋轉時只允許晶圓端面接觸采樣液。

通過位置調整,使采樣液不會被卷到旋轉晶圓的正反面上。(已取得**)


日本有限會社NAS技研簡易性微量金屬污染物采用設備(NAC系列)
NAC-302 NAC-304 NAC-316 

<NAC系列的主要特點>
●對于硅晶圓,全自動地進**相分解→污染物采樣→采樣樣品的稀釋作業。
●對于憎水性和親水性晶圓二者都可以采樣(端面采樣**憎水性晶圓)。
●對于大量晶圓有采樣分析的需求時,本設備可以大顯身手
●擁有對于采樣液的計量和稀釋功能,一旦晶圓上有藥液殘留時可以防止作業繼續進行。
●獨特的窗門雙層結構,以防工作空間內的酸氣氛和操作員一方的空氣發生交叉污染。
●具有自動清洗采樣用支架具的功能,削減了手工操作(※表面和端面二種支架具都適用)。

另外,還有“基體蝕刻→晶圓污染物采樣”全自動設備(NAC-304)。
并且,近幾年來,為減少污染,對于“基體蝕刻→晶圓污染物采樣→ICP-MS自動對接并進行元素分析”一氣完成的需求日益高漲(NAC-316)。